1.独特的照射结构,实现有效工作范围的均匀照射
2.高效的低角度照明,以增强表面特征或缺陷对比度
3.常应用在被测物体需要均衡的表面照明并且要避免反光或耀斑的场合
1.检测BGA、QFP位置。
2.检测集成电路料带。
3.检测集成电路的管脚字符。
4.检测金属表面划伤检测。
5.检测连接件管教间距及偏移。
型号:LTS-FPQ120-W
成像实例:针柱垂直检测
LTS - FPQ ## ##- C 公司名 种类 长 宽 颜色
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